مبانی و اصول کارکرد XRF
مقدمه
روش فلورسانس پرتو x (XRF) یا طیف سنجی پرتو x یکی از روشهای آنالیز عنصری است که امروزه از آن به طور وسیعی در صنعت و مراکز پژوهشی استفاده می شود. این روش به ویژه به خاطر سرعت زیاد در شناسایی عنصری برای برخی از صنایع ضروری است. در این روش پرتو x به نمونه مجهول تابیده و در اثر برانگیختگی اتمها باعث پدید آمدن پرتو x ثانویه می شود سپس با تعیین طول موج یا انرژی پرتو ایکس ثانویه عنصر یا عنصرهای مورد نظر را می توان شناسایی کرد.
1. اساس کار
پرتو خروجی از لوله پدید آورنده پرتوx به نمونه می تابد و در اثر بمباران، الکترونهای موجود در مدار داخلی اتم خارج شده و جایگزینی این الکترونها از مدارهای بالایی، سبب پدید آمدن پرتو x یا همان پرتو مشخصه خواهد شد.
شکل اجزای این دستگاه در شکل 1 نشان داده شده است. پرتو x خروجی از نمونه که در حقیقت پرتو مشخصه عنصرهای موجود در نمونه است پس از عبور از جمع کننده به سوی یک بلور هدایت می شود.
http://www.2ql.net/uploads/1235884711.jpg
2. اجزای دستگاه XRF
لوله پدید آورنده پرتو x
دردستگاه های مختلف XRF ، از لوله های گوناگونی استفاده می شود . تفاوت آنها در توان استفاده شده در لوله ، محل قرار گرفتن پنجره برلیومی و نوع سرمایش می باشد.
پنجره خروجی می تواند در دیواره کناری و یا در انتهای لوله قرار داشته باشد . در این نوع لوله آند به صورت یک لایه نازک بر روی پنجره برلیومی قرار دارد . نمونه ای از این نوع لوله ، در شکل زیر نشان داده شده است. جنس آند در دستگاه XRF به طول معمول فلز کرم، مولیبدن، رنیم یا تنگستن است. وظیفه لوله پرتو x پدید آوردن پرتوی با شدت زیاد برای برانگیختگی همه عنصر های موجود در نمونه مجهول است . به عبارت دیگر ، طیف پرتو خروجی از لوله ، باید طول موج کمتری از لبه جذب عنصرهای موجوددر نمونه مجهول داشته باشد
http://www.2ql.net/uploads/1235897207.jpg
برای دریافت کل مقاله اینجا را کلیک کنید
pass: iustge.blogfa.com
